首页
研究院简介
研究院概况
发展历程
专家团队
先进微纳工艺研究中心
中心简介
工艺能力
服务模式及流程
收费标准
科学研究
研究方向
医工融合
先进传感
超宽带通信
论文发表
专利介绍
成果转化
孵化企业
新闻中心
要闻报道
通知公告
加入我们
首页
研究院简介
研究院概况
发展历程
专家团队
先进微纳工艺研究中心
中心简介
工艺能力
服务模式及流程
收费标准
科学研究
研究方向
医工融合
先进传感
超宽带通信
论文发表
专利介绍
成果转化
孵化企业
新闻中心
要闻报道
通知公告
加入我们
搜索
欢迎来到北京理工大学重庆微电子研究院!
简体中文
|
English
中心简介
工艺能力
服务模式及流程
收费标准
首页
>
先进微纳工艺研究中心
>
工艺能力
先进微纳工艺研究中心
核心工艺能力
光刻工艺
Stepper 步进投影光刻 双面对准曝光(4/6 inch) 自动涂胶显影一体化 厚胶工艺(达80um)
薄膜沉积
ICPCVD / PECVD (SiO2, SiNx) 磁控溅射 (贵金属/一般金属) 电子束蒸发 (贵金属/一般金属) Parylene 真空沉积
干法刻蚀
深硅刻蚀 (DRIE, 高深宽比) 金属/介质层干法刻蚀 XeF2 硅释放刻蚀 等离子去胶 (O2/Ar)
湿法与电化学
RCA 标准清洗 / 金属剥离 各向异性湿法腐蚀 晶圆专用减薄抛光 精密电镀 (铜盲孔/厚铜)
热工艺与键合
干湿法热氧生长 LPCVD Poly/SiN 高温退火与固化 阳极/热压/共晶键合
表征与测试
高分辨场发射 SEM + EDS 探针式台阶仪 / 膜厚仪 薄膜应力测试 / 高温探针台 3D 轮廓测量
部分工艺设备
全自动RCA标准清洗机
步进投影光刻机
磁控溅射台
电子束蒸发台
四管卧式高温炉
硅基深反应离子蚀刻机
晶圆薄膜应力测量仪
膜厚仪
干法硅刻蚀(深宽比>15:1,线宽4μm)
碳化硅刻蚀(刻蚀宽度10μm,深度5μm)
多晶硅薄膜生长(片内/片间均匀性≤2%)
聚合物填充电隔离结构(静电微镜应用)
电镀铜结构与深硅刻蚀释放(电磁微镜应用)
SOI双面异向DRIE释放(电热微镜应用)
工艺开发能力-部分案例
首页
关于我们
产品中心
解决方案
联系我们